熒光滲透檢測線探傷是探測金屬材料或部件內部的裂紋或缺陷。

常用的探傷方法有：X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷（著色探傷）、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷等方法。

通用磁粉探傷機廠家這里著重介紹的是物理探傷，物理探傷就是不產生化學變化的情況下進行無損探傷。而在不損壞工件或原材料工作狀態的前提下，對被檢驗部件的表面和內部質量進行檢查的一種測試手段我們稱為無損探傷。

X光射線探傷就是利用x射線穿透物體進行內部檢查的的一種探傷方法。遇見缺陷（面積型缺陷比較有效），射線能量會發生減弱，這樣底片上就會成像，類似我們照相的底片。在觀片燈下就可以觀察了。

超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進入另一截面時，在界面邊緣發生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法，當超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內部，遇到缺陷與零件底面時就分別發生反射波來，在熒光屏上形成脈沖波形，根據這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。

射線探傷和超聲波探傷是兩種Z常用的檢查內部缺陷的方法。

渦流探傷是利用電磁感應原理，檢測導電構件表面和近表面缺陷的一種探傷方法。其原理是用激磁線圈使導電構件內產生渦流量，借助探測線圈測定渦電流的變化量，從而獲得構件缺陷的有關信息。

按探測線圈的形狀不同，可分為穿過式（用于線材、棒材和管材的檢測）、探頭式（用于構件表面的局部檢測）和插入式（用于管孔的內部檢測）三種。

各類探傷機（儀）的計量性能如何，直接影響探傷結果的正確判斷。為此，無錫市計量檢定測試中心根據探傷機的檢測原理，建立了相應的計量標準裝置，以此滿足客戶對各類探傷機（儀）的計量校準需求，確保探傷機計量性能的正確可靠。例如：

依照JJF1273-2011《磁粉探傷機校準規范》建立了測量范圍為（0～10000）A，準確度為±0.05%的磁粉探傷機校準裝置，開展測量范圍為（0～10000）A，準確度為±5%的磁粉探傷機的校準工作。

依照JJG40-2011《X射線探傷機檢定規程》建立了測量范圍：空氣比釋動能率為（0.1～100）cGy/min，X射線范圍為≤400kV，準確度為±5%的X射線探傷機檢定裝置，開展準確度為±10%的X射線探傷機的校準工作。

依照JJG746-2004《超聲探傷儀檢定規程》建立了測量范圍：頻率為（0.5～15）MHz，衰減為（0～81）dB，準確度：頻率為5×10-4，衰減為（0.5%A±0.02）dB的超聲探傷儀檢定裝置，開展準確度為±1dB/12dB的超聲探傷儀的檢定。